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X熒光光譜儀的多種檢測(cè)模式
發(fā)布時(shí)間：2022-07-22 10:33:35 點(diǎn)擊：4760
X熒光光譜儀利用X射線的檢測(cè)原理，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、性能高的光譜儀，對(duì)于X熒光光譜儀，其有多種檢測(cè)模式，我們一起來(lái)看一下。
能發(fā)現(xiàn)，使用X熒光光譜儀，可以在水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環(huán)保等行業(yè)進(jìn)行應(yīng)用。其利用固定通道，減少了測(cè)量時(shí)間，另外也適用于熒光產(chǎn)額比較低的輕元素和微量元素上的測(cè)定，以此提高儀器的分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀是一款相對(duì)操作簡(jiǎn)單，全自動(dòng)分析操作的儀器，其可實(shí)現(xiàn)快速定性、半定量及定量分析。
臺(tái)式X熒光光譜儀的檢驗(yàn)檢測(cè)
X熒光光譜儀一般認(rèn)為有三種分析模式，即點(diǎn)分析、線分析和面分析。
點(diǎn)分析：將電子探針固定在試樣感興趣的點(diǎn)上，進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析，例如對(duì)材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學(xué)計(jì)量材料的組成等分析。
線分析：電子束沿一條分析線進(jìn)行掃描（或試樣掃描）時(shí)，能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像（二次電子像或背散射電子像）對(duì)照分析，能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布。沿需要檢測(cè)的線逐點(diǎn)測(cè)量成分，也可以劃出該線的成分變化曲線。
面分析：將電子束在試樣表面掃描時(shí)，元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來(lái)（定性分析），亮度越亮，說(shuō)明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對(duì)照分析。
針對(duì)不同檢測(cè)場(chǎng)景和檢測(cè)環(huán)境，對(duì)樣品進(jìn)行不同的檢測(cè)模式。上一篇：X熒光光譜儀助力新能源汽車(chē)的環(huán)保 下一篇：直讀光譜儀在汽車(chē)工業(yè)中的應(yīng)用
