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ICP-AES，ICP-OES，ICP-MS三種ICP光譜儀的區(qū)別
發(fā)布時(shí)間：2024-10-29 13:34:13 點(diǎn)擊：3352
ICP-AES (Inductively Coupled Plasma atomic emission spectrometry)電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀，ICP-AES等離子體發(fā)射光譜儀是近三十年迅速發(fā)展的一種十分理想的痕量元素分析儀器.它基于物質(zhì)在高頻電磁場所形成的高溫等離子體中,有良好特征譜線發(fā)射,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對不同元素的測定.它具有檢出限極低、重現(xiàn)性好，分析元素多等顯著特點(diǎn)。附特殊裝置還可以實(shí)現(xiàn)更多非金屬元素的測量。
ICP-OES(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer ) 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，現(xiàn)在的稱呼。因?yàn)楝F(xiàn)在icp發(fā)射光譜技術(shù)用到了越來越多的離子線，"原子發(fā)射光譜儀"已經(jīng)不是那么科學(xué)，所以現(xiàn)在都叫oes了。ICP-OES可同時(shí)分析常量和痕量組分，無需繁復(fù)的雙向觀測，還能同時(shí)讀出、無任何譜線缺失的全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀,快速、線性范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。
ICP-MS(Inductively Coupled Plasma mass spectrometry) 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀，ICP-MS是一個(gè)以質(zhì)譜儀作為檢測器的等離子體，ICP-AES和ICP-MS的進(jìn)樣部分及等離子體是極其相似的。ICP-AES測量的是光學(xué)光譜（120nm～800nm），ICP-MS測量的是離子質(zhì)譜，提供在3～250amu范圍內(nèi)每一個(gè)原子質(zhì)量單位（amu）的信息。還可測量同位素測定。尤其是其檢出限給人極深刻的印象，其溶液的檢出限大部份為ppt級，石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級，ICP-AES大部份元素的檢出限為1～10ppb，一些元素也可得到亞ppb級的檢出限。但由于ICP-MS的耐鹽量較差，ICP-MS的檢出限實(shí)際上會(huì)變差多達(dá)50倍，一些輕元素（如S、Ca、Fe、K、Se）在ICP-MS中有嚴(yán)重的干擾，其實(shí)際檢出限也很差。
綜上所述，ICP-AES、ICP-AAS和ICP-MS在元素分析方面各有優(yōu)勢，選擇哪種光譜儀取決于具體的應(yīng)用需求、樣品類型以及預(yù)算等因素。
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