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X射線熒光分析儀器鍍窗厚度的影響
發布時間：2020-09-01 09:03:30 點擊：5987
X射線熒光分析儀器鍍窗厚度是選擇探測器時需要考慮的另一個要點，由于鍍窗對輕元素分析譜線的強吸收，使得其探測效率很低，采用25um的鍍窗，將很難測定Na等輕元素，故為分析輕元素，當然希望鍍窗越薄越好。但過薄的鍍窗厚度其使用壽命也會受到影響。因此選擇鍍窗厚度時，應根據擬分析的對象，確定合適鍍窗厚度的探測器，如果沒有實際需求，過分追求薄的鍍窗是沒有必要的。
此外，對常規X射線熒光分析而言，通常的探測器厚度已滿足需求，如果需要分析重元素的K系譜線或高能粒子，探測器厚度也是需要重視的一個環節。探測器厚度越大，越有利于分析高能粒子或高能射線。
在選購一臺能量探測器時，一方面要考慮探測器的分辨率，另一方面還需要考慮是將主元素測定作為分析重點，以尋求盡可能寬的濃度測定范圍，還是尋求好的分辨率而偏重于微量元素分析，綜合與折中大概是通常的選擇。
總之，在選擇探測器時，應根據擬分析對象，綜合考慮分辨率、線性響應范圍、鉞窗厚度、探測器厚度及有效探測面積，權衡主、次、痕量元素分析范圍，有所側重，以達到有效滿足多數分析項目的目的。
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