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手持式光譜分析儀的理論系數(shù)法
發(fā)布時(shí)間：2020-09-02 09:01:19 點(diǎn)擊：5603
理論系數(shù)法是通過理論計(jì)算元素之間影響系數(shù)，進(jìn)而對(duì)基體進(jìn)行一定程度上的校正。常規(guī)理論系數(shù)法一般是通過質(zhì)量吸收系數(shù)來(lái)計(jì)算元素之間影響系數(shù),只考慮了吸收效應(yīng)，沒有考慮增強(qiáng)效應(yīng)，因此校正效果有一定偏差，準(zhǔn)確度弱于FP法。軟件可通過理論強(qiáng)度來(lái)計(jì)算影響系數(shù)，同時(shí)考慮了吸收和增強(qiáng)效應(yīng)，準(zhǔn)確度與FP法相當(dāng)。
手持式光譜分析儀
背景FP法
XRF準(zhǔn)確分析的前提是待測(cè)樣必須是與標(biāo)樣一致的規(guī)范樣品，即塊狀、表面光滑。當(dāng)在實(shí)際應(yīng)用中待測(cè)樣可能是各式各樣非規(guī)范樣品(比如粉末、顆粒、礦石等)，來(lái)不及或不能制樣。如果直接測(cè)會(huì)產(chǎn)生相當(dāng)大的誤差,這是工作曲線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法或者常規(guī)FP法無(wú)法勝任的。
X射線照射樣品，除產(chǎn)生熒光外還發(fā)生散射形成背景。散射有兩種:康普頓散射和瑞利散射。通過分別計(jì)算這兩種散射的散射系數(shù)得到背景散射強(qiáng)度,導(dǎo)入到熒光FP法中去，進(jìn)行散射(背景)校正，這就是背景FP法。
以上的兩種方法是手持式光譜分析儀在運(yùn)行中所考慮修正誤差的方法，是手持式光譜分析儀器保持精度的關(guān)鍵。
